品名:高解析奈米粒徑和界面電位分析儀
【High Resolution Nanopartical and zeta potentioal analyzer】 
廠牌:CORDOUAN (法國)
型號 AMERIGO, nanoparticle size and zeta potential analyzer, won a prize ” TOP PRODUCT” at the exposition LaborExpo 2019

1三合一機型，雙角度奈米量測 ，界面電位量測，標準量測與延伸式接非接觸式遠距量測。

2最新技術設計的動態光散射(DLS)和激光杜普勒電泳（LDE）技術。 

(1). 粒徑雙角度 (170、17)量測設計(可擴充90度) ，界電量測17℃
(2). 新型高功率光籤式半導體雷射 50mw@635nm。 
(3). 最新高速、高感度、高解析度的 APD detector。  
 

4樣品槽採用市面標準 10 x 10mm cuvettes 粒徑與界面電位共用，無須特定消耗品，且可同步量測粒子與界面電位，界面電位極為高耐久性玻璃碳電極 可清洗可重複使用。

5.高解析軟體式演算器可執行數據分段演算及時間動力學分析
具有三種演算法 
1. 標準演算法 standard Cumulant method 
2.連續式演算法 Multimodal Continuous Algorithm (MCA), 監測區間時間內粒子隨時間變化現象如團聚沉降. 

3.分離式區段演算法 Multimodal Discrete Algorithm (MDA) 選特定時間量測數據可分段計算分析出粒子變化表徵