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TDTR在奈米尺度熱傳導測量為目前可信度最高之測量方法 NETZSCH NanoTR/PicoTR為唯一成功商品化之TDTR設備
NaoTR / PicoTR
採用奈秒、皮秒雷射進行超快速分析
鍍層厚度最低可量測至10nm(依機種及材質而定)
量測範圍:0.01 ~ 1000 mm2/s
準確度:±6.2%
重複性:±5%
提供AIST CRM可追溯標準品
符合JIS R 1689及JIS R 1690標準
TDTR Time Domain Thermoreflectance - The Laser Flash Method for Thin Films 品牌:NETZSCH Picotherm 產地:德國 型號:NanoTR/PicoTR